導(dǎo)波雷達物位計發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。 

容器中存在兩種不同介質(zhì)，當(dāng)上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù) 向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。 

因而導(dǎo)波雷達物位計是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導(dǎo)電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。

    由于采用了*的微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術(shù)，導(dǎo)波雷達物位計可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。多種過程連接方式及探測組件的型式，使得CDGW系列導(dǎo)波雷達物位計適用于 各種復(fù)雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。 

采用脈沖工作方式，導(dǎo)波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。