電子設(shè)備可靠性設(shè)計方法(上)
下面介紹電子設(shè)備可靠性設(shè)計方法。
1.可靠性預(yù)計
電子設(shè)備的特點是其元器件壽命服從指數(shù)分布,即故障率為常數(shù)。所以,可用公式預(yù)計其可靠性指標(biāo)。
電子設(shè)備均是由電阻、電容、二極管、三極管、集成電路等標(biāo)準(zhǔn)化程度很高的電子元器件組成,而對于標(biāo)準(zhǔn)元器件現(xiàn)已積累了大量的試驗、統(tǒng)計數(shù)據(jù),已有成熟的預(yù)計標(biāo)準(zhǔn)和手冊。對于國產(chǎn)電子元器件,可采用國家標(biāo)準(zhǔn)GJB/Z 299A—91《電子設(shè)備可靠性預(yù)計手冊》進(jìn)行預(yù)計;而對于進(jìn)口電子元器件,則可采用美標(biāo)MIL-HDBK-217E《電子設(shè)備可靠性預(yù)計》進(jìn)行預(yù)計。
(1)元件計數(shù)法 這種方法適用于方案論證和初步設(shè)計階段。其通用計算公式為 式中 λs——系統(tǒng)的總故障率(l/h);
λgi——第i種元器件的通用故障率(l/h);
πqi——第i種元器件的通用質(zhì)量系數(shù); Ni——第i種元器件的數(shù)量;
n——設(shè)備所用元器件的種類數(shù)目。