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在科研和工業(yè)生產(chǎn)的眾多領(lǐng)域中，對(duì)微觀粒子表面電荷特性的精確測(cè)量是至關(guān)重要的。然而，傳統(tǒng)的測(cè)量手段在面對(duì)低電泳遷移率體系時(shí)，往往力不從心，難以滿足高精度測(cè)量的需求。正是在這樣的背景下，高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀應(yīng)運(yùn)而生，以其杰出的性能和精確度，成為了當(dāng)前測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的選擇工具。
高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀結(jié)合了電泳原理和光散射技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)微觀粒子表面電荷特性的高精度測(cè)量。通過(guò)測(cè)量帶電顆粒或分子在電場(chǎng)下的電泳運(yùn)動(dòng)速度和方向，該儀器能夠推算出顆粒或分子表面的電荷密度和電位。此外，其采用的硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)，相較于傳統(tǒng)的電泳法，具有更高的靈敏度，能夠在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近等復(fù)雜測(cè)量條件下，準(zhǔn)確檢測(cè)出樣品的Zeta電位。
除了精確的Zeta電位測(cè)量，該儀器還具備出色的粒度分析能力。其粒度檢測(cè)原理基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）法，可檢測(cè)范圍廣泛，從幾納米到數(shù)十微米不等，適用于不同尺寸的顆粒及其混合物的分析。這一功能使得科研人員能夠更全面地了解樣品的粒度分布和表面電荷特性，為深入研究物質(zhì)性質(zhì)提供了有力支持。
值得一提的是，該儀器的操作簡(jiǎn)便快捷，無(wú)需過(guò)多的專業(yè)知識(shí)和技能。同時(shí)，其測(cè)量速度快，通常只需數(shù)分鐘即可完成一次測(cè)量，大大提高了科研效率。此外，該儀器還具備多樣品自動(dòng)連續(xù)測(cè)量的能力，進(jìn)一步滿足了科研和工業(yè)生產(chǎn)中的大規(guī)模測(cè)量需求。
綜上所述，高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀以其杰出的性能和精確度，成為了當(dāng)前測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的創(chuàng)新工具。在未來(lái)的科研和工業(yè)生產(chǎn)中，它將發(fā)揮更加重要的作用，推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步和創(chuàng)新發(fā)展。
最后，展示一組高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀的外觀圖片，以便您更好地了解它！
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