激光粒度儀

　　使用MIE散射原理的激光粒度儀假設測量的粒子是標準球體，不能測量粒子形態，大部分是離線粒度儀。

　　采用MIE散射原理的激光粒子系統由**開發的集中傅里葉變換光路和**自由擬合數據處理軟件組成，可檢測粒子大小和分布，涵蓋毫米、微米、微米和納米多波段。

　　用于測試粒子大小和分布的分布系統根據不同的測試要求分為濕分布系統、干分布系統和濕干綜合分布系統。

　　散射、衍射是在光線照射到粒子上時發生的，其衍射和散射光強度都與粒子的大小有關。觀察光的強度，應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論，得出粒子直徑分布(激光衍射/散射法)，并用Mie散射理論計算。當燈光進入球形粒子時，會生成三種類型的燈光。**類是通過粒子曲面、粒子內部和粒子內部曲面的反射光。**種類型是通過粒子內部折射的光。第三類是表面的衍射光。這些現象與粒子的大小無關，都可以用散射光處理。

　　一般來說，激光粒度儀光散射現象可以通過Maxwell電磁方程用嚴格解的Mie散射理論來解釋。但是實際使用太復雜，為了獲得實際光的強度，可以基于入射波長和粒子半徑R的關系，即R小于時的Rayleigh散射理論。當r大于時，Fraunhofer衍射理論。使用上述理論時，考慮到光的波長和粒子直徑的關系，不同領域要使用不同的理論。

　　粒子大小大于波長時，由Fraunhofer衍射理論得到的衍射光強與Mie散射理論得到的散射光強度大體一致。因此，可以用Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似值。這時光散射(衍射)的方向幾乎集中在前方，其強度與粒子直徑的大小有關，有很大的變化。也就是說，它表示粒子直徑的**光強譜，通過求解粒子的光強分布(散射譜)可以確定粒子直徑。波長接近粒子直徑時，不能用Fraunhofer的近似值來表示散射強度。這時有必要根據Mie散射理論進一步討論。Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子直徑、粒子和介質的相對折射率決定。[1]

　　顆粒圖像儀

　　拍攝粒子照片后，可以對照片進行分析，測量粒子形態，從而進行現場實時在線測量。

　　粒子圖像計有靜態和動態測試方法。

　　利用靜態改造的顯微鏡系統，可以在計算機屏幕上直觀地反映粒子樣品的圖像，并結合相關的計算機軟件計算粒子大小、形狀、總體分布等屬性，并將測試結果輸出到報告中。動態方式具有形態和粒度分布的雙重分析能力。通過重新配置新的循環分布式系統和軟件數據處理模塊，解決了靜態顆粒圖像儀繁瑣的樣品制作、樣品代表不良、粒子粘合等缺陷。

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