烘焙的質(zhì)地紋理-C-Cell孔隙(成像)分析儀

  在烘焙領(lǐng)域中使用質(zhì)構(gòu)儀進(jìn)行質(zhì)量分析已有完善的基礎(chǔ)，如全質(zhì)構(gòu)分析(Texture Profile Analysis)、AACC與AIB測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)等，然而有部份質(zhì)地單靠質(zhì)構(gòu)儀無(wú)法完整表達(dá)優(yōu)劣與了解原因，如吐司的綿密與軟彈關(guān)聯(lián)，想要知道內(nèi)部的質(zhì)地紋理就需要搭配C-Cell孔隙(成像)分析儀來(lái)了解孔隙的大小、形狀與走向，以更好的體會(huì)配方與工藝帶來(lái)的改變。

      C-Cell孔隙(成像)分析儀是一種以高分辨率拍攝產(chǎn)品切片，并利用影像、光影、色差來(lái)進(jìn)行切面分析的儀器，可以得到產(chǎn)品孔隙大小形狀分布、粗糙度、均勻度與對(duì)比度等外觀參數(shù)。目前C-Cell已經(jīng)通過(guò)AACCi Method   10-18.01，被認(rèn)證是觀測(cè)面包品質(zhì)的一個(gè)重要指標(biāo)，在面包、蛋糕、披薩等等食品領(lǐng)域廣泛應(yīng)用，可以用于配方控制、產(chǎn)品評(píng)估、工藝發(fā)展等等，如在烘焙品中質(zhì)地受面筋蛋白影響，在制作過(guò)程中會(huì)有許多不可控制的隨機(jī)結(jié)構(gòu)，然而在工廠的生產(chǎn)中，產(chǎn)品的均一性是非常重要的，因此往往會(huì)用特殊工藝來(lái)降低隨機(jī)性(如面團(tuán)多次搟卷)，而C-Cell可以藉由成品差異對(duì)產(chǎn)線工藝或原料配方進(jìn)行修正以確保產(chǎn)品的一致性。