涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別

涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別？膜厚儀和涂層測(cè)厚儀是同一種產(chǎn)品，叫法不一樣，就好像光澤儀大家會(huì)叫光澤度儀，光澤度計(jì)，光澤測(cè)試儀。

儀器一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類(lèi)產(chǎn)品。
儀器一般是測(cè)氧化膜層厚度，常見(jiàn)的鋁基，銅基氧化，測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱(chēng)為膜厚儀。
涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層，蘭泰儀器涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層。
兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別，不過(guò)現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱(chēng)呼。

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