X射線熒光光譜儀在我們生產的各個領域都有廣泛的應用，對于企業生產質量的保障都有重要作用。X射線熒光光譜儀也經歷了長時間的發展過程，在發展的過程中不斷突破技術瓶頸，變得越來越好。那關于X射線熒光光譜儀的發展歷史，你了解多少呢?跟著X射線熒光光譜儀生產廠家一六儀器來了解一下吧。

　　1895年德國物理學家倫琴發現X射線;

　　1969年美國實驗室研制出EDXRF;

　　1990年北京中產電子、上海硅酸鹽研究所、成都地質學院、西安262廠、西安海通原子能研究所、重慶地質儀器廠研制EDXRF;

　　1997年德國菲希爾在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;

　　2000年英國牛津儀器在定型自有FP算法;

　　2001年英國牛津在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;

　　2003年德國費希爾儀器在定型自有FP算法;

　　2005年日本精工儀器在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;

　　2009年國內儀器廠商海外購買FP算法推出EDXRF測厚儀;

　　2017年一六儀器全新EFP算法成熟，推出新一代EDXRF測厚儀;

　　一六儀器發展歷程：

　　2009年一六儀器團隊成員根據多年的EDXRF研發及應用經驗，重新搭建更新一代算法、結構、部件及控制總成系統。

　　2012年算法模型和新型搭建成功，部件開始投入市場。

　　2015年EFP核心算法的軟件進行整機測試其最小測量面積、變焦、及復雜多層的能力。

　　2017年12月正式發布新型測厚儀XTU系列及EFP算法軟件。

　　至今相繼推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多種儀器型號，功能包括涂鍍層分析、Rohs檢測、地質地礦全元素分析、古董珠寶貴金屬檢測。

　　以上就是X射線熒光光譜儀生產廠家一六儀器給大家整理的全部內容，如果大家想要了解更多關于X射線熒光光譜儀的內容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務。公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。