EDXRF測(cè)厚儀可用于檢測(cè)多層的成分及厚度，除了計(jì)算單層物質(zhì)的成分分析還要去計(jì)算多層成分及厚度，同時(shí)會(huì)遇到微小的樣品位置、復(fù)雜的樣品的形狀(改變形狀再測(cè)試厚度會(huì)變化)、上下層有相同元素等等檢測(cè)難題，所以它比其它EDXRF應(yīng)用更加復(fù)雜，這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測(cè)等等的廠家很多，做測(cè)厚儀的很少、做得很好的比較少的原因。那測(cè)厚儀應(yīng)該如何劃分呢?跟著測(cè)厚儀廠家一六儀器來(lái)了解一下吧。

　　測(cè)厚儀異形樣品檢測(cè)區(qū)分：

　　有對(duì)焦無(wú)變焦：只能測(cè)試平面樣品或者固定凹槽深度的異形件。

　　有變焦：能測(cè)試平面樣品及0-90mm凹槽落差異形樣品。

　　有對(duì)焦有變焦：能快速測(cè)試平面樣品，以及凹槽深度0-90mm落差的各種異形面，凹槽件。

　　測(cè)厚儀測(cè)量面積參數(shù)劃分：

　　普通手持式測(cè)厚儀：常見(jiàn)的手持式測(cè)厚儀檢測(cè)直徑是5mm;

　　常規(guī)X-RAY測(cè)厚儀：常規(guī)的X-RAY測(cè)厚儀檢測(cè)直徑是0.5 mm;

　　專業(yè)級(jí)X-RAY測(cè)厚儀：專業(yè)級(jí)的X-RAY測(cè)厚儀可小到0.05 m㎡;

　　毛細(xì)孔百萬(wàn)級(jí)測(cè)厚儀：毛細(xì)孔聚焦配置的X-RAY測(cè)厚儀可小到0.02mm(價(jià)格近百萬(wàn));

　　測(cè)厚儀測(cè)量涂鍍層種類(算法)

　　第1代：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC

　　需要選用大量標(biāo)樣來(lái)校正元素之間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)，樣品成分越復(fù)雜，所需的標(biāo)樣越多。特點(diǎn)：在測(cè)試多層和多元復(fù)合層時(shí)比較困難，測(cè)量種類局限，加上需要多標(biāo)樣來(lái)校正，應(yīng)用成本高。

　　第2代：基本參數(shù)法FP

　　主流計(jì)算方法，一般需要配合標(biāo)樣進(jìn)行計(jì)算。

　　特點(diǎn)：無(wú)法測(cè)試重復(fù)鍍層和非金屬輕金屬鍍層。

　　第3代：

　　多元迭代法EFP算法

　　隨著計(jì)算機(jī)運(yùn)算能力提升，一六儀器在多種算法的基礎(chǔ)上，通過(guò)計(jì)算元素的一次、二次、靶材熒光，吸收增強(qiáng)效應(yīng)和散射背景等多元迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法。優(yōu)點(diǎn)：只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

　　以上就是光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部?jī)?nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于光譜測(cè)厚儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。