雷達物位計通過天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。

　　雷達物位計的回波質量主要受以下因素影響:1.傳播介質的介電常數，該常數越穩定越有利于傳播。雷達波是電磁波，電磁波在傳播過程中不受傳播介質穩定程度的影響，只與其介電常數有關。這是雷達技術與超聲波技術的重大區別。2.被測介質表面狀況，表面越平整，其介電常數越大，則越有利于回波反射。所以考慮現場情況時，應特別注意這兩個方面：1.天線到被測介質間空氣介電常數的分布。2.被測介質的表面狀態及其介電常數。

　　雷達物位計技術參數：天線規格應用：簡易處理條件下的侵蝕性液體；測量范圍：大于35m；過程配件：或法蘭；過程溫度：-40…150℃；過程壓強：-1…16bar（-100…1600kPa）；精度：+/-1mm；發射頻率：6.3GHz；應用：嚴峻過程條件下的儲存和加工容器；測量范圍：大于35m；過程配件：法蘭；過程溫度：-40…400℃；過程壓強：-1…160bar（-100…1600kPa）；精度：+/-1mm；發射頻率：6.3GHz。



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