1目的 

對超聲波金屬探傷儀進行內部校準，確保其準確度、精密度符合使用要求。 

2適用范圍 

本規適用于本公司新購置和使用中的超聲波探傷儀與探頭的系統性能的檢驗。 

3校驗基準 

標準試塊CSK-ⅠA試塊及200/Ф2平底孔試塊。所用試塊必須是具有相應認證企業生產，并具有合格證書 

4環境條件 

常溫、干燥環境，無特殊要求。 

5校準步驟 

5.1垂直線性 

5.1.1用5MHZ或其它頻率的常用直探頭，用壓塊將探頭固定在200/Ф2平底孔試塊上并對準Φ2孔（或其它試塊25mm底面）。調節探傷儀使示波屏上顯示的孔的反射波幅度為垂直刻度的99%（滿刻度），作為“0”dB，且衰減器至少有30dB余量； 

5.1.2調節增益，依次記下每衰減2dB時相應的波高值 Hi，并將實測相對波高值填入表1中，直至底波消失。 

表1  衰減量△dB 0  2  4  6  8  10  12  14  16  18  20  22 24 26 理論相對波 高% 100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1 20.0 15.8 12.5 10.0 7.9 6.3 5.0 實測波高Hi 

實測相對波 高% 

偏差% 

上表中：理論相對波高%=Hi（衰減△dB后波高）/ H0（衰減0dB時波高）×99%；             實測相對波高%=10（- △i/20） ×99%。 

5.1.3計算垂直線性誤差  D= （|d(+)|+|d(-)|）×99%  式中  d(+)——正偏差；  d(-)——負偏差。  5.2水平線性

5.2.1將直探頭置于CSK-ⅠA上，對準25mm厚的大平底面。 

5.2.2調節探傷儀使示波屏上出現六次底波B1到B6，且使B1前沿對準0，B6對準10.0。記錄B2、B3、B4、B5與水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、        α3、α4、α5。 

5.2.3計算水平線性誤差  δ=│α max │/0.8b×99%  式中  αmax——α2、α3、α4、α5者；  b— ——示波屏水平滿刻度值。 

5.3動態范圍  調[抑制]至"0"。將滿幅度99%某波高用[衰減器]衰減到剛能識別的最小值所需衰減的分貝值就是動態范圍。 5.4靈敏度余量 

5.4.1儀器與直探頭靈敏度余量的測試 

a) 儀器[增益]至，[抑制]至"0"，[發射強度]至"強"，連接探頭，并使探頭懸空，調[衰減器]使電噪聲電平≤ 10%，記下此時的[衰減器]的讀數N1dB。  將探頭對準200/Ф2平底孔。調[衰減器]使Ф2平底孔回波高達50%，記下此時[衰減器]讀數N2dB。則儀器與探頭的靈敏度余量N為N=N2-N1（dB）。 

5.4.2儀器與斜探頭靈敏度余量的測試 

a) 儀器[增益]至，[抑制]至"0"，[發射強度]至"強"，連接探頭，并使探頭懸空，調[衰減器]使電噪聲電平≤ 10%，記下此時的[衰減器]的讀數N1dB。 b) 將探頭置于CSK-ⅠA試塊上，記下使R100圓弧面的次反射波達50%時的衰減量N2。則儀器與斜探頭的 靈敏度余量N為N=N2-N1（dB）。 

5.5始脈沖寬度 

5.5.1調節儀器的發射強度，使被測探頭阻尼電阻值接近等效阻抗值（無探頭波）。 

5.5.2將探頭置于CSK－IA試塊上厚度100mm處，調節儀器使次底波B1前沿對準水平刻度“5”，第二次底波B2前沿對準水平刻度“10”，并使B2的幅度為垂直刻度的50～80%； 

5.5.3將探頭置于對比試塊Z20－4上，移動探頭使孔波為，調節衰減器使孔波幅度為垂直刻度的50%，再把衰減器的衰減量減小12dB（即提高12dB），然后讀取從刻度板的零點至始波后沿與垂直刻度20%線交點所對應的水平距離即為負載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示； 

5.5.4將探頭置于空氣中，擦去表面耦合劑，讀取從刻度的零點至始波后沿與垂直刻度20%線交點所對應的水平距離，即為空載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示。 

5.6盲區  直探頭置于CSK-ⅠA試塊Ф50孔的兩側面，5mm側面處有獨立回波，則盲區小于或等于 5mm。若此處無獨立回波，而在另一側面（10mm）處有獨立回波，則盲區在5～10mm之間。若此處仍無獨立回波，則盲區大于是10mm。 

5.7分辯力 

5.7.1儀器與直探頭分辯力的測定 

a) [抑制]至"0"，探頭置于CSK-ⅠA試塊階梯的另一面，使示波屏上出現85、91、100三個反射回波A、B、C。 

b) 左右移動探頭,使85、91兩處回波幅度相等并以為20%～30%滿刻度. 

c) 調節[衰減器],使85、91兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度,此時[衰減器]所釋放的dB數即為以dB值表示的 超聲探傷系統的分辨力. 

5.7.2儀器與斜探頭分辯力的測定 

a) 斜探頭置于CSK-ⅠA試塊上，對準Ф50、Ф44、Ф40三階梯孔，使示波屏上出現三個反射波。 

b) 左右移動探頭,使Ф50、Ф44兩處回波幅度相等并以為20%～30%滿刻度. 

c) 調節[衰減器],使Ф50、Ф44兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度,此時[衰減器]所釋放的dB數即為以dB值表 示的超聲探傷系統的分辨力. 

5.8探頭性能測試 

5.8.1斜探頭入射點測試 

a) 將探頭放在CSK-ⅠA試塊上，使R100圓弧面回波達時斜楔底面與試塊圓心的重合點就是該探頭的入射點。 

b) 探頭前沿L就是R100減去探頭前端到圓弧面距離。 

5.8.2斜探頭折射角、K值測試 

a) 當折射角為34°～66°時，探頭放在距Ф50遠面處，使用Ф50mm孔進行測定。 

b) 當折射角為60°～75°時，探頭放在距Ф50近面處，使用Ф50mm孔進行測定。 

c) 當折射角為74°～80°時，探頭放在距Ф1.5近面處，使用Ф1.5mm孔進行測定。 

d)  測出探頭前端到試塊端面距離L0。 

e)  K=（L+ L0-35）/30  5.8.3主聲束偏離及雙峰測試 

a) 斜探頭置于CSK-ⅠA試塊大平面處，對準試塊棱邊，移動并轉動探頭，找到棱邊波，其探頭側面平行線與棱 邊夾角就是主聲束偏離角。 

b) 斜探頭對準CSK-ⅠA試塊的Ф1.5mm孔或其它試塊的橫孔，移動探頭，看是否有雙峰。 

5.9校檢結果評定 

5.9.1垂直線性誤差不大于5%； 

5.9.2水平線性誤差不大于1%。 

5.9.3動態范圍不小于26dB。 

5.9.4儀器與直探頭靈敏度余量≥30 dB。 

5.9.5儀器與斜探頭靈敏度余量≥40 dB。  始脈沖寬度：對于頻率為5MHz的探頭，其占寬不得大于10 mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，其占寬不得大于15 mm。 

5.9.6 盲區小于等于7mm. 

5.9.7儀器與直探頭分辯力一般要求≥30 dB。 

5.9.8儀器與斜探頭分辯力一般要求≥6 dB。 

5.9.8單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于2°，主聲束垂直方向不應有明顯的雙 峰。