葡萄在貯運(yùn)過(guò)程中由于受到溫度波動(dòng)和機(jī)械振動(dòng)作用，經(jīng)常出現(xiàn)大量損耗的問(wèn)題。如何解決貯運(yùn)過(guò)程中葡萄的損耗問(wèn)題是當(dāng)下重要的研究課題之一。

 通過(guò)用質(zhì)構(gòu)儀對(duì)貯運(yùn)過(guò)程中葡萄品質(zhì)的測(cè)定，以期為葡萄貯運(yùn)條件的設(shè)置提供一定的參考與依據(jù)。

1穿刺測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀（或Rapid TA+專(zhuān)業(yè)型質(zhì)構(gòu)儀或Rapid TA實(shí)用型質(zhì)構(gòu)儀）

探頭：P/NP針型探頭

將葡萄顆粒置于針型探頭下進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)品種取15個(gè)，后算平均值。測(cè)試條件設(shè)置如下

測(cè)試模式：穿刺

測(cè)試前速度：0.5mm/s

測(cè)試速度：0.5mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：5g

目標(biāo)模式：形變  50%

測(cè)定結(jié)果：可以用于測(cè)定葡萄表皮的穿刺強(qiáng)度

2 TPA測(cè)定

儀器：Universal TA質(zhì)構(gòu)儀（或Rapid TA+專(zhuān)業(yè)型質(zhì)構(gòu)儀或Rapid TA實(shí)用型質(zhì)構(gòu)儀）

探頭：P/50柱型探頭

將葡萄顆粒置于柱型探頭下進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)品種取15個(gè)，后算平均值。測(cè)試條件設(shè)置如下

測(cè)試模式：全質(zhì)構(gòu)TPA

測(cè)試前速度：1mm/s

測(cè)試速度：1mm/s

測(cè)試后速度：5mm/s

觸發(fā)力：8g

目標(biāo)模式：形變 30%

兩次下壓間隔時(shí)間：3s

測(cè)定結(jié)果：可以用于測(cè)定葡萄的硬度、彈性、回復(fù)性、內(nèi)聚性和咀嚼性等指標(biāo)。