除了細粉料物位外,該領域仍是超聲物位測量有優勢的領域,雖然雷達物位計也推出了測量固態物位的產品,但是在常用量程(15m以下)的應用中,超聲物位計在性能和價格上都有優勢。超聲波反射是基于聲阻抗率的差別。空氣和固態物料的聲阻抗率相差極大,故超聲波在塊狀及顆粒狀固態物料上幾乎是全反射,而雷達的反射是基于介電常數的差別,對于介電常數低的被測物料,信號反射就會減少。此外,由于固態物料料面都有一定安息角,測量固態料面基本上利用波在粗糙表面的漫反射,形成漫反射的條件是表面粗糙度(近似于顆粒直徑)大于或等于1/6λ(λ為波長),量程15m的超聲物位計大都采用40kHz頻率,聲波波長為8.5mm,所以對2mm以上顆粒直徑的物料都可以形成良好的漫反射。而雷達物位計采用X波段時頻率為5.85或6GHz,波長約為52mm,對于粒徑較小的顆粒狀物位,漫反射效果差。用K波段(24或26GHz)會改善很多,但價格較高。故該領域目前仍以選擇超聲波方法為多。