四探針探頭探頭GSZ-HP-501的說明書

來源：山東利達信儀器儀表設(shè)備有限公司 2016年11月22日 10:10

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

四探針探頭探頭型號：GSZ-HP-501

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1	特制之手握式探筆
2	球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3	探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4	探頭使用壽命長
5	探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

型號（Model）	曲率半徑（Radius）	壓力（loads）	探針間距（spacing）	探針排列（Arrangement）
GSZ-HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直線

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