東莞市艾思荔檢測儀器生產(chǎn)的高低溫低氣壓試驗(yàn)箱有的特點(diǎn)，工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長；高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到小；表面噴塑處理 – 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命等特點(diǎn)。

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱系列

HLP系列高低溫低氣壓試驗(yàn)箱適用于對材料類、電工電子類、類等產(chǎn)品、零部件進(jìn)行溫度、濕度、高度綜合試驗(yàn)。

也適用于產(chǎn)品的品質(zhì)測試和可靠性試驗(yàn)等，也可用于其他高低溫（濕度）、低氣壓相關(guān)的加工和測試工藝。

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)

采用雙極旋片真空泵，極限真空度高，確保設(shè)備在整個工作使用范圍內(nèi)均能、穩(wěn)定地運(yùn)行；

高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；

高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；

多種可選功能（測試孔、記錄儀、凈水系統(tǒng)等）保證了用戶多種功能和測試的需要；

大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；

環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制

可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；

全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；

每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；

USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；

采用流行的制冷控制模式，可以0%~自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；

制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GJB 150.2A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)

GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 3部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.6-1986 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度-高度試驗(yàn)

*安裝濕度模塊后，還可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗(yàn)

GJB 150.24A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 24部分：溫度-濕度-振動-高度試驗(yàn)

GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱