射頻導納物位控制技術是一種從電容式物位控制技術發展起來的，防掛料性能更好、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術，“射頻導納”中“導納”的含義為電學中阻抗的倒數，它由阻性成份、容性成份、感性成份綜合而成，而“射頻”即高頻無線電波，所以射頻導納技術可以理解為用高頻電流測量導納。
射頻導納物位計利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進行處理后改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進的測量技術，代表了當今物位測量的新水平。
射頻導納物位計液位本身對探頭相當于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。
射頻導納物位計對于導電被測介質，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質及掛料區，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質都不是*導電的。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據數學理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。
射頻導納物位計根據對掛料阻抗所產生的誤差研究，又增加一個交流驅動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以實際測量真實值，從而排除掛料的影響。
射頻導納物位計是目前物位控制器跨世紀的前衛替代產品，在歐美國家和日本已被廣泛應用，國內的用戶也在用它替換舊的產品。它可以檢測所有物料而不受物料的密度、顆粒大小、化學成分、沉積粘度和導電特性等參數變化的影響。廣泛地應用于液體、粉體、漿體、固體等多種物料的控制。
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