當前位置:西安安泰測試設備有限公司>>元器件測試儀>>LCR測試儀>> WK4100系列WK4100系列 LCR表
TH2830 TH2831 TH2832 TH283X系列緊湊型LCR
WK4100系列 LCR表產品參數:
1J4110 頻率范圍20Hz~100kHz
1J4120 頻率范圍20Hz~200kHz
1J4150 頻率范圍20Hz~500kHz
1J41100 頻率范圍20Hz~1MHz
? 測試頻率:20Hz—1MHz
? 基本精度:0.1%
? 測試速度:<20ms
? 提供B1、B2、S1和S2測包訊號,可連接各家封裝測試機
? 測試參數:阻抗(Z), 相位角(θ)、交流電阻(Rac)、電容(C), 損耗因數(D),電感(L), 品質因數(Q),電納(B), 電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻(Rdc)
? 交流信號源:10mV—2Vrms
? 通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB
? 直流疊加:內置+2V,外加0—±40V
? 具有帶電電容器放電保護電路
? 體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器
WK4100系列 LCR表適用范圍:
0.1% 基本精確度,266PCS/分產量~540PCS/分
雙頻測試,四項參數顯示
4110頻率范圍20Hz~100kHz
4120頻率范圍20Hz~200kHz
4150頻率范圍20Hz~500kHz
41100頻率范圍20Hz~1MHz
GPIB USB,LAN,RS232界面與操作軟件
測試參數:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
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