LG薄膜多層擠出各層測厚測試系統(tǒng)

儀器簡介：
 多層結(jié)構(gòu)薄膜的厚度測量。光學(xué)法，安全且簡易。對高產(chǎn)出的質(zhì)量控制和工藝監(jiān)測，可以實(shí)現(xiàn)全自動測量。

LG薄膜多層擠出各層測厚測試系統(tǒng)

硬件：

試樣操作：全自動。可以對測量點(diǎn)的數(shù)量和各點(diǎn)之間的距離進(jìn)行編程。測量寬度大至5cm，長度沒有限制。由軟件引導(dǎo)測量過程的移動和停止。

厚度范圍：
樣品大厚度650um（自動測量）
樣品大厚度1200um（手動測量）

尺寸重量：41（寬）x 26（深）x 23（高）cm；17kg

連接：電源90 – 260 V，50/60Hz（自動識別）。大電源消耗 80VA。
PC同USB連接

計(jì)算機(jī)配置：PC，顯示器，觸摸屏和打印機(jī)可選

軟件：

簡介：M-Flex32電腦用，運(yùn)行環(huán)境Windows2000/XP/Vista/7。

各層厚度測量：
層數(shù)不限。寬范圍的信號分析和峰值搜索功能的自動測量。

報(bào)告輸出：厚度結(jié)構(gòu)圖，數(shù)字報(bào)告和公差圖，亦可設(shè)定格式。