深圳德譜儀器有限公司
菲希爾膜厚儀
德國菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀,是發展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,其非破壞式的測量,特別適合五金的金屬鍍層厚度,測量快速、精確、無損.如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀,采用了高次數率的比例接收器,可以在沒有標準片的情況下,對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量,另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,可測量多至24元素,這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀的*穩定性是十分高的,這使儀器減少校正所需要的時間及次數,便于管理儀器,并提高生產效率.應用范圍廣泛,包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層(如:裝飾性鉻的鍍層)、在電子及半導體行業中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析,已成為被廣泛應用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。
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主營產品:RoHS2.0檢測儀器,XRF元素檢測儀,能量色散x熒光光譜儀,EDX元素檢測儀,鹵素含量檢測儀,八大重金屬檢測儀,元素成分分析儀,合金成分分析儀,鍍層測厚儀
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