UV754N紫外可見分光光度計

UV754N紫外可見分光光度計

特點：
◆具有全波段掃描、分波段掃描（759S型主機具備）、動力學時間掃描、以及GOTOλ、線性回歸、濃度直讀、峰谷檢測等各種高功能。
◆采用熱敏繪圖儀，可進行數據打印、光譜掃描（759S主機具備）、定波長時間掃描、線性回歸等曲線的繪制。
◆具有USB接口，可直接與PC機交互，強化了儀器的檢測數據、掃描圖譜等處理功能，實現了測試文檔的海量儲存。
◆斷電保護措施，可記憶測得數據、掃描圖譜、回歸方程以及儀器修正值等，并實現了開機初始化進入測試狀態。
◆儀器操作簡便，用戶需對應液晶顯示屏上的菜單進行選項和確認，即能達到所需的功能。

指標；
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長大允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min  亮電流漂移：≤0.5(T)/3min