泰安首創環保設備有限公司
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閱讀：12發布時間：2025-5-7
紫外可見分光光度計的系統誤差對測量吸光度的影響是可以檢查和校正的。關于操作誤差，多數情況下，通過嚴格按操作程序測量、實驗室儀器調零、準確稱量等來控制或減少這種誤差的產生。關于實驗室儀器的系統誤差，可通過對紫外可見分光光度計的定期校正來克服，那么，紫外可見分光光度計將如何進行校正呢。
為了獲得準確的研究結果，準確測得樣品溶液的吸光度非常關鍵。一般來說，分析結果的不可靠性與偶然誤差和系統誤差有關。偶然誤差影響測量的精密度，可通過足夠數量測量的統計處理來減少;系統誤差影響測量結果的準確度，可在大體相同實驗條件下，用比較一種物質的準確測量結果，使系統誤差統一起來。
一、紫外分光光度計 -紫外可見分光光度法
紫外分光光度計：根據物質的吸收光譜研究物質的成分、結構和物質間相互作用的有效手段。紫外分光光度計可以在紫外可見光區任意選擇不同波長的光。物質的吸收光譜就是物質中的分子和原子吸收了入射光中的某些特定波長的光能量，相應地發生了分子振動能級躍遷和電子能級躍遷的結果。由于各種物質具有各自不同的分子
、原子和不同的分子空間結構，其吸收光能量的情況也就不會相同，因此，每種物質就有其的、固定的吸收光譜曲線，可根據吸收光譜上的某些特征波長處的吸光度的高低判別或測定該物質的含量。
紫外可見分光光度法：紫外-可見分光光度法是在190〜800mn波長范圍內測定物質的吸光度，用于鑒別、雜質檢查和定量測定的方法。當光穿過被測物質溶液時，物質對光的吸收程度隨光的波長不同而變化。因此，通過測定物質在不同波長處的吸光度，并繪制其吸光度與波長的關系圖即得被測物質的吸收光譜。從吸收光譜中，可以確定ZUI大吸收波長和ZUI小吸收波物質的吸收光譜具有與其結構相關的特征性。因此，可以通過特定波長范圍內樣品的光譜與對照光譜或對照品光譜的比較，或通過確定ZUI大吸收波長，或通過測量兩個特定波長處的吸收比值而鑒別物質。用于定量時，在ZUI大吸收波長處測量一定濃度樣品溶液的吸光度，并與一定濃度的對照溶液的吸光度進行比較或采用吸收系數法求算出樣品溶液的濃度。
二、儀器的校正和檢定
波長：儀器波長的允許誤差為：紫外光區± lnm , 500nm附近士 2nm。
由于環境境因素對機械部分的影響，儀器的波長經常會略有變動，因此除應定期對所用的儀器進行全面校正檢定外，還應于測定前校正測定波長。常用汞燈中的較強譜線 237. 83nm，253. 65nm，275. 28nm， 296. 73nm，313.16nm，334.15nm， 365. 02nm，404. 66nm， 435. 83nm，546. 07nm 與576. 96nm；或用儀器中氘燈的486. 02nm與656.10nm譜線進行校正；鈥玻璃在波長 279. 4nm，287. 5nm， 333. 7nm，360. 9nm，418. 5nm， 460. 0nm， 484. 5nm， 536. 2nm 與 637. 5nm 處有尖銳吸收峰，也可作波長校正用，但因來源不同或隨著時間的推移會有微小的變化，使用時應注意；近年來，常使用高氯酸鈥溶液校正雙光束儀器，以10%高氯酸溶液為溶劑，配制含氧化鈥（Ho203 ) 4 % 的溶液，該溶液的吸收峰波長為241. 13nm, 278. l0nm, 287. 18nm，333. 44nm，345.47nm,361,
31nm, 416. 28nm, 451. 30nm，485. 29nm, 536. 64nm和 640.52nm。
吸光度的準確度：可用重鉻酸鉀的硫酸溶液檢定。
取在120℃干燥至恒重的基準重鉻酸鉀約60mg，精密稱定，用0.005mol/L硫酸溶液溶解并稀釋至1000ml，在規定的波長處測定并計算其吸收系數，并與規定的吸收系數比較
其關系可以用朗伯-比爾定律表述如下：
式中：
A為吸光度；
T為透光率；
E為吸收系數，常用的表示方法，其物理意義為當溶液濃度為1%（g/ml）,液層厚度為1cm時的吸光度數值；
c為100ml溶液中所含物質的重量（按干燥品或無水物計算），g；雜散光的檢查：可按下表所列的試劑和濃度，配制成水溶液，置1cm石英吸收池中，在規定的波長處測定透光率,應符合表中的規定。
三、日常維護
一、溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素。他們可以引起機械部件的銹蝕，使金屬鏡面的光潔度下降，引起儀器機械部分的誤差或性能下降；造成光學部件如光柵、反射鏡、聚焦鏡等的鋁膜銹蝕，產生光能不足、雜散光、噪聲等，甚至儀器停止工作，從而影響儀器壽命。維護保養時應定期加以校正。應具備四季恒濕的儀器室，配置恒溫設備，特別是地處南方地區的實驗室。
二、環境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機械系統的靈活性、降低各種限位開關、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學部件鋁膜銹蝕的原因之一。因此必須定期清潔，保障環境和儀器室內衛生條件，防塵。
三、儀器使用一定周期后，內部會積累一定量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導下定期開啟儀器外罩對內部進行除塵工作，同時將各發熱元件的散熱器重新緊固，對光學盒的密封窗口進行清潔，必要時對光路進行校準，對機械部分進行清潔和必要的潤滑，ZUI后，恢復原狀，再進行一些必要的檢測、調校與記錄。
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