BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)）

BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） 可以測試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品譜與參比譜的比值，會降低原始光譜的信噪比，因此需要光譜儀具有較高的信噪比；同時為了獲取更多信息，需要光譜儀具有寬泛的光譜范圍。而熒光強度較弱，屬于弱光信號，為了探測熒光光譜，一般需要高靈敏度的光譜儀。需要對微米尺度的光譜信號進行采集，這需要光譜儀具有微弱光信號的檢測能力。BWGP-2000是一款適合多種科研應(yīng)用的光譜儀。

一、BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） 主要用途：

• 用于高低溫下半導體發(fā)光波長在線檢測

• 用于高低溫下手機面板透過率檢測

• 用于高低溫下實驗室微區(qū)樣品透反射率檢測

• 用于高低溫下薄膜透過率檢測其他化合物檢測

• 用于高低溫下納米復合材料上轉(zhuǎn)換熒光中的應(yīng)用

• 用于高低溫下測試物體的顏色檢測

• 用于高低溫下黑硅光電探測器研究中的應(yīng)用

• 用于高低溫下液晶顯示研究中的應(yīng)用

二、BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） 主要特點：

• 高低溫測試系統(tǒng)可以任意設(shè)置溫度

• 電腦軟件自動顯示溫度和光譜圖

3、可以靈活搭配不同類型的光譜儀

二、BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） 主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度：-150℃-600℃

2、探測范圍：200~1100nm

3、波長分辨率：0.7 nm

4、光學分辨率：z高 0.12nm (FWHM)

5、探測器： Hamamatsu，S10420 背照式

6、動態(tài)范圍： 6,000:1

7、信噪比： 800:1 (飽和時)

8、雜散光： < 0.1% @ 600nm

9、光纖接口： SMA905

10、數(shù)據(jù)傳輸： USB-B，支持 USB2.0 通訊協(xié)議，480Mbps 傳輸速度

11、外部觸發(fā)： 4 種觸發(fā)模式

12、測溫精度：0.1℃

13、外形尺寸：L360mm*W370mm*H510mm

14、凈    重：22KG