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阻抗測試儀

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更新時間：2018-05-15 16:15:30瀏覽次數：791次

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深圳市捷泰普科技有限公司

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產品簡介

泰克DSA8300阻抗測試儀。HDIM，USB3.0，DisplayPort，SATA等行業協會*的TDR高頻測試方案，同時也可以進行損耗等頻域測試。

詳細介紹

泰克DSA8300阻抗測試儀。HDIM，USB3.0，DisplayPort，SATA等行業協會*的TDR高頻測試方案，同時也可以進行損耗等頻域測試。

特點	優點
多達4條真正差分通道，業內zui低的噪底（450 fs）和zui高的垂直分辨率（16位）	在高分辨率、低噪聲的測量系統中使用真正差分TDR激勵源，提供優秀的信號查看能力，滿懷信心地、準確地檢定芯片和背板/連接器設計
準確的TDR，采用遠程采樣頭，高帶寬（50 GHz）時域反射計	12ps入射階躍，使用遠程采樣頭，把TDR頭放到被測器件附近，zui大限度地減少探頭、電纜和夾具的影響，解決直到1mm的阻抗不連續點
光學模塊為155 Mb/s - 100 Gb/s的所有標準提供了優秀的帶寬、靈敏度、噪聲性能和回波損耗（信號保真度）	準確地、可重復地檢定155 Mb/s到40 - 100 Gb/s及以上速率的ITU和以太網設計
串行數據網絡、串行數據鏈路和抖動/噪聲分析軟件包選項	使用一臺儀器進行時域分析和頻域分析，降低測試成本。準確地分析信號路徑，預測信號串擾和抖動，保證系統可靠運行。使用抖動、噪聲和BER分析，確定眼圖閉上的確切原因
全面集成碼型同步觸發	集成高速觸發功能，支持zui苛刻的數字/邏輯碼型，保證準確捕獲事件
緊密集成時鐘恢復功能，準確地進行眼圖分析	支持全面集成的時鐘恢復功能或時鐘恢復觸發攔截功能，在與泰克或第三方時鐘恢復儀器一起使用時，提供經過校準的解決方案，支持155 Mb/s - 100 Gb/s信令