半導體檢測儀器

半導體恒溫檢測儀器|技術指標：  

1、型號：TH-408  

3、溫度范圍：-20℃/A型-40℃/B型-60℃/C型-70℃/D型～+100℃（+150℃）  

4、濕度范圍：20～98％R·H（可根據要求訂做至10-98﹪R.H）  

5、溫度波動度：±0.5℃  

6、溫度均勻度：溫度：≤2℃  （:）

7、濕度偏差：＋2－3%R.H  

8、升降溫速度：0.7~1℃/min（3℃/min、5℃/min、10℃/min）  

半導體恒溫檢測儀器|配置：  

1、冷卻器：多級膜片式蒸發器。、  

2、加熱器：U型鰭片式不銹鋼高速加溫電熱器。  

3、保溫材料：玻璃纖維棉/硬質聚胺脂發泡。  

4、控制器：韓國“三元”或日本“OYO”  

5、空氣循環：單循環、加長軸、不繡鋼離心風葉。  

6、制冷方式：單元制冷方式/雙元（復疊）制冷方式。  

7、制冷壓縮機：采用歐美進口冷凍壓縮機（法國泰康）  

8、傳感器：進口PT100鉑金電阻。  

半導體恒溫檢測儀器|箱體結構 

1、試驗箱內膽為不繡鋼板制成，外殼采用SUS304不銹鋼板油發紋板或A3鋼板噴涂。  

2、箱門密封條采用耐高低溫的硅橡膠，密封性能佳。  

3、采用澆槽加濕方式。  

4、高有觀察窗，明明燈，便于觀察箱內樣品情況。  

5、主控儀表：觸摸屏液晶顯示屏可程式控制儀。