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　　低溫貯存測試的用途
　　
　　用于試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干燥、耐濕性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學、建材、LED燈等行業品管之用。
　　
　　低溫貯存測試的型號：
　　
　　容積（單位：L）
　　
　　工作室尺寸（D*W*H）mm
　　
　　外型尺寸（D*W*H）mm
　　
　　TS-80
　　
　　450×450×500
　　
　　1200×1000×1650
　　
　　TS-225
　　
　　500×600×750
　　
　　1300×1150×1900
　　
　　TS-500
　　
　　700×800×900
　　
　　1450×1400×2100
　　
　　TS-800
　　
　　800×1000×1000
　　
　　1550×1600×2250
　　
　　TS-1000
　　
　　1000×1000×1000
　　
　　1850×1600×2250
　　
低溫貯存測試的參數：
　　
　　一、高低溫區溫度范圍：高溫區部分： 80℃至 200℃低溫區部分：-10℃至-55℃。
　　
　　二、溫度測試范圍：高溫： 60℃至 150℃。低溫：0℃至-40℃。
　　
　　三、控制精度：（-）2℃。
　　
　　四、解析精度：0.01℃。
　　
　　五、高溫區升溫時間：自常溫至150℃，約60分鐘。
　　
　　六、低溫區降溫時間：自常溫至-40℃，約80分鐘。
　　
　　七、冷熱沖擊試驗箱測試區溫度恢復時間：3-5分鐘。
　　
　　低溫貯存測試的特點：
　　
　　產品&規范高溫低溫溫變率循環數循環
　　
　　時間備注
　　
　　MIL-STD-2164、GJB-1032-90
　　
　　電子產品應力篩選工作極限溫度工作極限溫度5℃/min10～123h20min
　　
　　MIL-344A-4-16
　　
　　電子設備環境應力篩選71℃-54℃5℃/min10
　　
　　MIL-2164A-19
　　
　　電子設備環境應力篩選工作極限溫度工作極限溫度10℃/min10駐留時間為內部達到溫度10℃時
　　
　　NABMAT-9492
　　
　　美軍*制造篩選55℃-53℃15℃/min10駐留時間為內部達到溫度5℃時
　　
　　GJB/Z34-5.1.6
　　
　　電子產品定量環境應力篩選85℃-55℃15℃/min≧25達到溫度穩定的時間
　　
　　GJB/Z34-5.1.6
　　
　　電子產品定量環境應力篩選70℃-55℃5℃/min≧10達到溫度穩定的時間
　　
　　筆記型計算機85℃-40℃15℃/min