深圳市瑞盛科技有限公司
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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
X射線發生部 2kw或3kw（cpu控制）
測角儀 θ/2θ聯動，θ、2θ獨立
掃描范圍 -6°~163°（2θ），-180°~180°（θ）
數據處理部 windows 2000/xp對應
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
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| 配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。 |
XRD-6000具有本質安全結構。
只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
| 對應工業環境測定標準/工業環境評價標準修訂 |
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