深圳市瑞盛科技有限公司
深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡zui基本的功能是對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，應用于生物學、植物學、地質學、冶金學等領域。觀察可以是一個樣品的表面，也可以是一個切開的面，或是一個斷面。冶金學家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長或腐蝕的缺陷。
深圳市瑞盛科技有限公司是專業從事儀器銷售以及售后支持的專業公司，公司在華南、華東、西南都有相應的售后支持服務網點，能*時間提供相應的配件、試劑、以及服務支持。請查閱聯絡http://zlj1856.testmart.cn/
掃描電鏡zui基本的功能是對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，應用于生物學、植物學、地質學、冶金學等領域。觀察可以是一個樣品的表面，也可以是一個切開的面，或是一個斷面。冶金學家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接地檢查紙，紡織品，自然的或制備過的木頭的細微結構，生物學家可用它研究小的易碎樣品的結構。例如：花粉顆粒，硅藻和昆蟲。另一方面，它可以拍出與樣品表面相應的立體感強的照片。
在掃描電鏡應用中，很多集中在器件和方面，它可以很詳細地檢查器件工作時局部表面電壓變化的實際情況，這是因為這種變化會帶來象的反差的變化。焊接開裂和腐蝕表面的細節或相互關系可以很容易地觀察到。利用束感生電流，可以觀測半導體P—N結內部缺陷。
電子束與樣品作用區內，還發射與樣品物質其他性質有關信號。例如：與樣品化學成分分布相關的，背散射電子，特征X射線，俄歇電子，陰極熒光，樣品吸收電流等；與樣品晶體結構相關的，背散射電子衍射現象的探測；與半導體材料電學性能相關的，二次電子信號、電子束感生電流信號；在觀察薄樣品時產生的透射電子信號等。目前分別有商品化的探測器和裝置可安裝在掃描電鏡樣品分析室，用于探測和定性定量分析樣品物質的相關信息。
掃描電鏡對于固體材料的研究應用非常廣泛，沒有任何一種儀器能夠和其相提并論。對于固體材料全面特征的描述，掃描電鏡是至關重要的。
保證分辨率 | 3.0nm（30kV） |
放大倍數 | 5至300,000x |
加速電壓 | 0.5kV至30kV |
電子槍 | 工廠預對中燈絲 |
聚光鏡 | 變焦聚光鏡 |
物鏡 | 錐形物鏡 |
樣品臺 | 全對中樣品臺 |
X-Y | 80mm-40mm |
Z | 5mm至48mm |
旋轉 | 360° |
傾斜 | －10°至＋90° |
排氣系統 | DPx1，RPx1 |
排氣系統 | DPx1，RPx2 |
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
操作窗口
直觀的操作界面的設計，簡明易懂便于迅速掌握操作。
支持多用戶
單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖標，營造快捷的操作環境。用戶登錄時，即可加載已注冊過的設定。
同時顯示兩幅圖像
畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。
微細結構測量
適合于多種測量功能。可在觀察圖像上直接進行測量。也可將測量結果貼至SEM圖像，保存在文件中。
標準的全對中樣品臺，能收錄三維照片
3D Sight（選配件），能夠進行平面測量和高度測量，實現立體俯視圖。
從圖像觀察到元素分析，配合連貫一條龍
分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監視器，一臺用于SEM圖像觀察和另一臺用于元素分析（EDS）。一只通用鼠標即可同時控制兩臺監視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。
維護簡便
工廠預置中心燈絲，十分便于更換。因此，可*保持穩定的高性能。此外，操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護的步驟說明。
可信賴的真空系統
真空系統使用高性能的擴散泵保證了潔凈的高真空狀態。擴散泵內部無活動部件，體現了操作穩定，維護簡便的特色。
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
