封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 高速測量2ms
能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率 選件： | 不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具及探頭. |  | | 輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件 | | 測量參數 | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ） | | 測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 | | 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數 | | 測量頻率 | 120Hz, 1kHz | | 測量信號電平 | 恒定電壓模式: 100mV (3504-60)， 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) | | 輸出電阻 | 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時） | | 顯示 | 發光二級管（6位表示，滿量程計算器根據量程而定） | | 測量時間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 | | 功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) | | 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 110VA | | 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg | | 附件 | 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 | | | | |
