昆山宏展儀器有限公司
昆山宏展儀器有限公司
暫無信息 |
超低濕試驗箱，除了可仿真產品在一般氣候環境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、結露試驗)..等，去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變，以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環境下是否會發生龜裂、破損，另外在低濕環境中的空氣靜電量是一般環境的30倍以上，據統計，半導體破壞率：59%是由靜電所引起的。
| ||
| ||||||||||||||||||||||||||||||
|
| ||
| 執行標準.中國國家標準分為強制性國標（GB）和*性國標（GB/T） 中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件 中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件 中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件 滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗 美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2 美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態 日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗 中國國家標準,GB/T2423.4-93方法 中國國家軍用環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
| ||
| |
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
