一、抗干擾變頻介質損耗測試儀概述： 

GS2690C變頻介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強， 測試時間短等優點，是我公司的第三代智能化介質損耗測試儀。

二、特點：

儀器為升壓與測量一體化結構，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調，以適應各種需要，在測量時無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

 標準回路由內置高壓穩定度標準電容器與標準電阻網絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測試品電容容值（CX）和其介質損耗（tgδ）。 

   數據采集電路全部采用高壓穩定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數百個電網周期的數據進行處理，使測量結果穩定、精確、可靠。 

三、抗干擾變頻介質損耗測試儀技術參數：

1、抗干擾方式：變頻抗干擾

2、測試方式：正接法  反接法  自激法  外接法  

3、測量范圍：     

     電容量：內接高壓  <3pF~60000pF/10kV   60pF~1μF/0.5kV 

     外接高壓  3pF~0.3μF/10kV    zui小分辨率 0.01pF  有效數字五位   

     介損：不限,zui小分辨率0. 01%

4、準確度：

     電容量：±(1.5%讀數+2pF)        介損：±(2%讀數+0.09%)

     內接試驗電源：0.5~10kV  電壓緩升緩降      45、50、55、60、65Hz單頻   

     45/55Hz自動雙頻測試        zui大輸出電流200mA

     自激電源3~50V變頻          zui大輸出電流20A

5、測量時間：約30秒（與測量方式有關）    

6、輸入電源：供電電源180~240VAC   50Hz（市電或發電機供電）

7、工作環境：溫度范圍：－10℃~50℃     相對濕度<90%

附加功能：100組數據存儲