天平簡介：
梅特勒-托利多XP/XS精密天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中，XP精密天平具有全面的質量管理工具(QM)，滿足質量保證的要求，特別適合于例如制藥行業的嚴格法規環境。而XS精密天平，配合其創新選件，為快速高效的稱量過程設立了全新標準。
天平主要特點：
采用高速單模塊傳感器(MonoBlocHighSpeed)，以的速度準確稱量結果，具有良好的抗沖擊、抗過載性能；
具有中文界面的TFT彩色觸摸屏(SmartScreen)或觸摸屏(TouchScreen)，實現安全、便捷的天平操作；
紅外感應器(SmartSens)*，實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等；
水平控制系統(LevelControl)*，在天平偏移水平位置時提供警告提示功能；
專業級全自動校準技術(proFACT)或全自動校準技術(FACT),溫度漂移和時間觸發的自動內置砝碼校正和線性校正，獲得精確稱量結果；
最小稱量值(MinWeigh)功能，提供符合法規的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活)；
天平校驗功能(BalanceCheck)*，自動提示用戶使用外部砝碼校正天平，確保稱量結果始終準確；
顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕；
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備；
符合GxP規范的稱量結果輸出，獲得完整的、可追溯的稱量信息；
GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作；
*僅XP天平
天平技術參數：
XP精密天平：量程210g~64100g，可讀性0.0001g~1g
XS精密天平：量程210g~32100g，可讀性0.001g~1g
天平應用領域:
梅特勒-托利多XP精密天平在例如需要符合美國藥典(USP)或GMP/GLP規范的制藥行業有著廣泛的應用，同時也是獲得至高稱量準確度的解決方案。而XS精密天平，則是食品化工行業，關注至高稱量效率，易于清潔的理想選擇。
天平主要型號:
XP精密天平/XS精密天平
