天平簡介:
梅特勒-托利多XP/XS精密天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中,XP精密天平具有全面的質量管理工具(QM),滿足質量保證的要求,特別適合于例如制藥行業的嚴格法規環境。而XS精密天平,配合其創新選件,為快速高效的稱量過程設立了全新標準。
天平主要特點:
采用高速單模塊傳感器(MonoBlocHighSpeed),以的速度準確稱量結果,具有良好的抗沖擊、抗過載性能;
具有中文界面的TFT彩色觸摸屏(SmartScreen)或觸摸屏(TouchScreen),實現安全、便捷的天平操作;
紅外感應器(SmartSens)*,實現無需用手接觸的稱量操作:開關門、打印、去皮等;
水平控制系統(LevelControl)*,在天平偏移水平位置時提供警告提示功能;
專業級全自動校準技術(proFACT)或全自動校準技術(FACT),溫度漂移和時間觸發的自動內置砝碼校正和線性校正,獲得精確稱量結果;
最小稱量值(MinWeigh)功能,提供符合法規的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活);
天平校驗功能(BalanceCheck)*,自動提示用戶使用外部砝碼校正天平,確保稱量結果始終準確;
顯示屏塑料保護罩,避免散落樣品的腐蝕;
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽,方便連接打印機、電腦等外圍設備;
符合GxP規范的稱量結果輸出,獲得完整的、可追溯的稱量信息;
GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保天平始終正確工作;
*僅XP天平
天平技術參數:
XP精密天平:量程210g~64100g,可讀性0.0001g~1g
XS精密天平:量程210g~32100g,可讀性0.001g~1g
天平應用領域:
梅特勒-托利多XP精密天平在例如需要符合美國藥典(USP)或GMP/GLP規范的制藥行業有著廣泛的應用,同時也是獲得至高稱量準確度的解決方案。而XS精密天平,則是食品化工行業,關注至高稱量效率,易于清潔的理想選擇。
天平主要型號:
XP精密天平/XS精密天平