冷熱沖擊試驗(yàn)箱也叫高低溫沖擊試驗(yàn)箱，該設(shè)備主要的定義是“溫度沖擊"，設(shè)備能在極短的時(shí)間里面，執(zhí)行高溫降至低溫，也可以從低溫升至高溫。

一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱升降溫速錄分析：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱它的結(jié)構(gòu)基本分為二箱式和三箱式兩種；它的升降溫速率（沖擊速率）國(guó)標(biāo)是有嚴(yán)格規(guī)定的，一般無(wú)論二箱式還是三箱式動(dòng)作時(shí)間必需小于15秒，恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘。
快速升降溫（快速溫變?cè)囼?yàn)箱），它一般是一個(gè)箱體構(gòu)成，但特殊的升降溫要求（升降溫速率要求過(guò)高時(shí)）時(shí)，也會(huì)采用兩個(gè)箱體；它的大升降溫速率一般大于國(guó)標(biāo)規(guī)定的范圍，常見的有6攝氏度/分鐘至15攝氏度/分鐘的升降溫速率，但其速率可以像普通試驗(yàn)箱一樣，通過(guò)儀表控制任意設(shè)定其速率。

二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱升降溫速率數(shù)據(jù)

1 、溫度沖擊范圍：-70℃、-60℃、-55℃、-40℃～+100、125、150、180℃
2 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5秒
5 、溫度穩(wěn)定時(shí)間：≤5分鐘

三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)特性

滿足標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品滿足CNSMIL、IEC、JIS、等標(biāo)準(zhǔn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：
冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱/主要技術(shù)指標(biāo)：
工作室尺寸： 400×400×500mm; （深×寬×高）
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時(shí)間： 5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s;
沖擊方式：三箱高低溫自動(dòng)程式轉(zhuǎn)換方式

勤卓環(huán)測(cè)科技承諾，凡在我司購(gòu)置恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備，一律享受免費(fèi)一年保固，在此期間，如設(shè)備發(fā)生任何故障，自客戶報(bào)修之日起，48小時(shí)內(nèi)我司會(huì)派遣專業(yè)人員免費(fèi)上門維護(hù)，敬請(qǐng)客戶放心。

芯片高低溫環(huán)境艙價(jià)格

芯片高低溫環(huán)境艙價(jià)格

芯片高低溫環(huán)境艙價(jià)格

芯片高低溫環(huán)境艙價(jià)格