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測量范圍	0-80um	產地	進口
加工定制	是

　　滿足復雜需求的X射線熒光分析

　　FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中的一款進口測厚儀，測試類型為X射線熒光測量儀器。和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優化您的任務的測量條件，配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。

　　對測量任務的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。

　　硅PIN二極管是一種中檔檢測器，非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質材料涂層。

　　與硅PIN二極管相比，高質量的硅漂移檢測器(SDD)具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業中的復雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應用的質量控制。

　　對于特別棘手的挑戰，Fischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在于它能夠可靠地測量納米級的鍍層，并進行痕量分析。使用這些XDAL設備，您可以測試用于高可靠性應用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。

　　儀器特點：

　　1、牛津測厚儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

　　2、3種不同的探測器可選(Si-PIN二極管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²)3

　　3、種可切換基本濾片

　　4、4種可切換準直器

　　5、小測量點約為0.15mm

　　6、樣品高度可達14cm

　　7、可編程XY工作臺，定位精度為10µm

　　8、開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

　　9、經過認證的全面保護設備

　　應用：

　　1.鍍層和合金(也包括薄涂層和低濃度)的材料分析

　　2.電子行業，ENIG，ENEPIG

　　3.連接器和觸點

　　4.黃金，珠寶和制表業

　　5.PCB制造薄金(幾納米)和鈀鍍層的測量

　　6.微量元素分析

　　7.高可靠性應用的鉛(Pb)的測定(避免錫晶須)

　　8.對硬質材料涂層的分析

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