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金屬平均晶粒度

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昆山華乃爾精密儀器有限公司

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金屬平均晶粒度

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金屬平均晶粒度這些方法也適用于晶粒開(kāi)關(guān)與本標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相似的非金屬材料。這些方法主要適用于單相晶粒組織，但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組的試樣中特定類型的晶粒平均尺寸的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)使用晶粒面積、晶粒直徑、截線長(zhǎng)度的單峰頒布來(lái)測(cè)定試樣的平均晶粒度

金屬平均晶粒度的詳細(xì)介紹

金屬平均晶粒度測(cè)定法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB) GB/T6394-2002 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬組織的平均晶粒度表示及評(píng)定方法。這些方法也適用于晶粒開(kāi)關(guān)與本標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相似的非金屬材料。這些方法主要適用于單相晶粒組織，但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組的試樣中特定類型的晶粒平均尺寸的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)使用晶粒面積、晶粒直徑、截線長(zhǎng)度的單峰頒布來(lái)測(cè)定試樣的平均晶粒度。這些分布近似正態(tài)分布。本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)定方法不適用于雙峰分布的晶粒度。本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法僅適用平面晶粒度的測(cè)量。也就是試樣截面顯示出的二維晶粒，不適用于試樣三維晶粒，即立體晶粒尺寸的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢材料是否接收或適合使用的范圍。