當前位置:杭州盡享科技有限公司>>公司動態>>2009光學儀器與技術會議召開
2009年10月19-22日,由中國儀器儀表學會(CIS)、中國光學學會(COS)、光學工程學會(SPIE)聯合主辦的“2009光學儀器與技術會議”(2009 International Conference on Optical Instrument and Technology,OIT’09),在上海光大會展中心舉辦。
本次會議共錄用論文470余篇,其中境外文章54篇;參會代表370余人,其中外賓48人,國內外專家十余人,其中包括中國儀器儀表學會理事長莊松林院士;俄羅斯科學院院士Yuri Chugui;日本光學學會副主席Kimio Tatsuno;SPIE代表、中國臺灣陽明大學教授Chiou Arthur;歐洲光學學會秘書長Paul Urbach;俄羅斯光學學會副主席Irina L.Livshits教授等。大會主席:莊松林院士。
大會報告六篇,分別為:俄羅斯科學院Yuri Chugui院士作“針對產業界和科學研究中一些緊迫任務的光學測量系統和技術”;中國儀器儀表學會理事長莊松林院士作“光學系統中微納規模的光學裝置及其應用”;日本光學學會副主席Kimio Tatsuno作“光子領域的未來挑戰 – 追求綠色數字經濟”;澳大利亞Minnesota大學Tianhong Cui教授作“聚合物發展之路:從微機電系統到納機電系統”;美國加里福尼亞大學Zhongping Chen教授作“光學相干層析成像和微觀內窺鏡多光子成像”;SPIE代表、中國臺灣陽明大學Arthur Chiou教授作“從光子力顯微鏡到擺動和跳躍光鑷:原理和生物醫學應用”。
大會分8個專題,分組宣講:光學系統和現代光電儀器;光鑷與顯微成像;*的傳感器技術與應用;、光電器件與集成;微納機電技術與應用;光電測試技術與系統;光電信息安全;光電成像與處理技術。
會議得到了國內外專家的*,他們均認為參加此次會議,受益匪淺,同時對會議的組織十分滿意,不少專家會后專程致電表示感謝。
本屆學術會議與中國儀器儀表學會舉辦的多國儀器儀表展覽結合,使參會代表有機會參觀展覽,獲得產品和技術成果;同時,參展商有機會聽取相應的學術報告,獲得研究成果和技術信息,促進雙方的發展。
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