MicroSWITdt射頻導納物位計/LCS2000電除塵灰斗料位開關/WKL2000射頻導納料位儀倉罐連續測量儀/LDFB-50G1A/BA-50LEG/BA-LLEG/BA-（L=400mm）應用：檢測料倉、料槽或其它容器中帶粘附性的液體、固體顆粒、粉塵及其它混合漿料等料位。兩種不同液體之間界面測量，如油水界面。石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域
MicroSWITdt射頻導納物位計/LCS2000電除塵灰斗料位開關/WKL2000射頻導納料位儀倉罐連續測量儀/LDFB-50G1A/BA-50LEG/BA-LLEG/BA-(L=400mm)應用：檢測料倉、料槽或其它容器中帶粘附性的液體、固體顆粒、粉塵及其它混合漿料等料位。兩種不同液體之間界面測量，如油水界面。石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域
特 性
l 校準簡單快捷、安裝方便、外形美觀
l 產品性能穩定
l 防粘附（掛料）
l 各種型號通用性強，適用性廣泛
l 可與PLC可編程控制器或DCS集散控制系統配套使用，實現工藝流程的自動檢測和自動控制
產品描述
射頻導納式物位控制器是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進行處理后改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進射頻導納測量技術，代表了當今物位測量的新水平。
射頻導納式物位控制器是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術將這種變化檢測出來，進行處理后改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進為射頻導納測量技術，代表了當今物位測量的新水平。可用于測量導電及不導電物體。常用有標準型、重型探頭型、耐高溫用陶瓷探頭型、堵料開關、堵煤開關等等。 射頻導納式物位控制器是一種從電容式物位測量技術發展起來的，防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術，射頻導納中的導納的含義為電學中阻抗的倒數，它由電阻性成分、電容性成分、電感性成分綜合而成。而射頻即發射高頻無線電波，所以射頻導納物位控制技術是通過用高頻無線電波測量被測介質導納來實現物位測量。
射頻導納技術與電容式技術zui重要的區別在于測量量的多樣化和三電極技術。射頻導納測量量的多樣化在于不止是測電容量，還有電阻和電感量，是測量更加準確。三電極技術包括電子單元和傳感器，在測量電極和地極之間加入屏蔽電極，將測量電極保護起來，不受掛料影響
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