篤摯儀器（上海）有限公司
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MiniTest7400測厚儀Elektrophysik批量出貨配備眾多的接口，MiniTest7400可以連接各種外接設備
MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨
配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉換器。
性能特點：
所有金屬基材上的非破壞性測量
多種圖形顯示選項
菜單控制界面，更強的數據和配置管理
用于簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
SIDSP®技術提升度和重現性
MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®明顯優勢
EPK此項探頭內部數字信號處理新技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。高精度，高重現性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP®的主要特點。創新的生產技術結合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，從而生產出高質量7400的探頭。
這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優勢。的精密生產過程使得每個探頭都如出一轍的優質。
MiniTest 7400測厚儀內存容量
應用程序內存數量10
每個應用程序存儲器的批次數
具有單個值記憶的批次數量100
單個讀數的總內存容量10,000
統計
從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。
從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
塊統計：x =，σ，kvar，n，max。，min。
塊統計：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
從同一應用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）
分別將值和統計打印到APPL-BATCH組
顯示和打印輸出和測量時的日期和時間（年，月，日，小時，分鐘）
校準方法
通過涂層校準（CTC）
粗糙表面測量。幾乎可以消除粗糙度的影響
OFFSET函數添加或減少常量值
外部功能（觸發）將讀數傳送到存儲器
鍵鎖定以保護校準
電池更換期間保存讀數
限制設置
測量單位為微米或密耳
篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著制造技術的精益求精。
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