南京第四分析儀器有限公司.
x射線熒光光譜分析儀采用X射線熒光技術的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍:原子序數22號(鈦)以上的所有元素。
x射線熒光光譜分析儀技術參數:
激發源 高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗
電壓及功率 40 kV, 40 W
探測器 大面積正比計數器,1100 mm²感應面積
光斑尺寸 準直器交換器,0.3 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統,放大倍數20-40倍
樣品臺 馬達驅動Z方向樣品臺,自動對焦。
選項:馬達驅動X-Y-Z樣品臺,自動對焦,便捷進樣功能
定量分析 塊狀樣品:基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型
鍍層分析:基本參數法模型
電源: 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W
尺寸(寬x深x高)550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL(SDD)
激發源 高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗
電壓及功率 50 kV, 50 W
探測器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器,30 mm²感應面積,對Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 準直器交換器,0.5 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統,放大倍數20-40倍
樣品臺 馬達驅動X-Y-Z樣品臺,自動對焦,便捷進樣功能。
定量分析 塊狀樣品:基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型
鍍層分析:基本參數法模型
電源: 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W
尺寸(寬x深x高)550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg
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