功率半導(dǎo)體器件是一種用于電能變換和控制的電力電子器件，在電路中起著整流、逆變、升/降壓、變頻等作用，廣泛應(yīng)用于新能源發(fā)電、電動汽車、軌道交通、工業(yè)自動化等行業(yè)。由于器件一般運行于工業(yè)級、車規(guī)級等各種嚴(yán)苛環(huán)境，需要進行帶電可靠性測試，其中，功率循環(huán)測試是考核功率器件封裝可靠性關(guān)鍵測試項之一。
客戶背景
客戶Z是國內(nèi)電子元器件可靠性行業(yè)測試設(shè)備供應(yīng)商&整體解決方案服務(wù)商，一直致力于電子元器件可靠性測試設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和服務(wù)，在功率半導(dǎo)體器件、IGBT模塊可靠性測試以及SoC、MCU、Memory等集成電路可靠性測試設(shè)備均處于行業(yè)地位。
客戶前期測試痛點
隨著SiC、IGBT等功率半導(dǎo)體器件的高速發(fā)展，其可靠性測試需求呈激增趨勢。客戶Z主要需要針對功率半導(dǎo)體器件進行功率循環(huán)老化測試，面臨如下三大測試痛點：
l 穩(wěn)定性
功率循環(huán)測試次數(shù)一般高達(dá)數(shù)萬次，如秒級功率循環(huán)≥6萬次，分鐘級功率循環(huán)≥1.5萬次，每次周期循環(huán)意味著加熱電源需通斷一次，如電源運行時動態(tài)響應(yīng)不及時或電流出現(xiàn)較大波動甚至過沖等問題，對于加熱能量控制、功率器件安全運行將產(chǎn)生不利影響；
l 紋波
紋波過高可能導(dǎo)致器件內(nèi)部元件過熱，縮短器件工作壽命，嚴(yán)重影響長時間的功率循環(huán)測試；
l 體積
一般功率循環(huán)測試系統(tǒng)需要3臺以上大電流電源，如測試電源體積過大，對客戶預(yù)留測試空間要求較高。
我們的解決方案
針對以上客戶需求，我們提供了N36200系列超穩(wěn)定低紋波可編程電源，通過長時間客戶真實場景試用，很好的滿足了前期需求。
l 穩(wěn)定可靠
通過通過優(yōu)化器件選型、系統(tǒng)散熱和環(huán)路控制，可保證24 h輸出漂移（30min熱機）≤0.01%，1000h輸出漂移≤0.05%，長時間工作輸出穩(wěn)定，支持CC優(yōu)先模式，可保證大電流輸出零過沖；
l 低紋波
電流紋波有效值Irms≤0.1%，輸出電流更純凈無干擾；
l 省空間
2U空間支持輸出1100 A大電流，節(jié)省用戶測試空間。
此外，我公司可提供源表、全電壓等級直流電源等產(chǎn)品，滿足功率半導(dǎo)體器件HTRB、HTGB等帶電可靠性測試需求。
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