優(yōu)測(cè)國(guó)芯電子科技（深圳）有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0等
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地深圳市
聯(lián)系方式：葉曉明查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2022-07-29 16:16:02瀏覽次數(shù)：148次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業(yè) | 其他 |
美國(guó)GGB直流探針（微米級(jí)硬探針）
ST 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑，長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探 針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加“NP"。
美國(guó)GGB直流探針（微米級(jí)硬探針）
介紹
ST 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑，長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探 針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加“NP"。
一般配合探針臺(tái)一起使用，用于測(cè)試相關(guān)半導(dǎo)體行業(yè)樣品的電學(xué)測(cè)試。比如IV/CV等。
根據(jù)其它使用場(chǎng)景，比如二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，機(jī)械探針臂等都有運(yùn)用。
詳情可以隨時(shí)聯(lián)系我們。
主要參數(shù)：
針桿長(zhǎng)度38mm，直徑0.5mm；可測(cè)電流范圍1fA~1A
美國(guó)GGB直流探針（微米級(jí)硬探針）
參數(shù)
優(yōu)測(cè)國(guó)芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動(dòng)化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測(cè)體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。現(xiàn)在主營(yíng)的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動(dòng)探針臺(tái)、高壓大功率探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái)，半自動(dòng)探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)等，可以完成I-V/C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、光電器件等測(cè)試。專業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽(yáng)能發(fā)生器、多普勒測(cè)試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺(tái)功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測(cè)試需求。
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