x射線測厚儀主要用于測量設備的生產中*的極薄膜、多層膜乃至半導體晶圓的硅膠基板厚度，膜厚儀可滿足用戶各種各樣的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。
X射線膜厚測試機采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。
在膜厚測量電路中，正弦振蕩器IC1、IC2產生頻率為1-100kHz的正弦波，加在變壓器B1初級上，次級輸出的正弦信號加到橋式電路的輸入端，由該橋路在非平衡狀態下獲取金屬材料表面的渦流變化;渦流變化量由檢測放大器IC3進行適當放大，再經交流放大器IC4和IC5放大數十倍后，經轉換電路將渦流變化量轉換為膜厚，由指示儀表顯示。
X射線膜厚測試機的產品特點有哪些?下面讓我們一起來了解一下吧：
1、該膜厚儀嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
2、測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差
3、支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
4、實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據
5、配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性
6、支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能
7、微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
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