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電子探針-面分析

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更新時間：2021-11-25 10:09:22瀏覽次數：526次

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產品簡介

測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

詳細介紹

測試項目：電子探針
測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數據質量；2、提前將測試點位用半圓圈起，并將各點位直線連接以便測試時快速定位，具體請咨詢相關技術人員。
完成標準：儀器狀態良好，監控標樣測試值在允許誤差范圍內。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號為日本電子（JEOL）JXA8230電流：1*10^-⁷A、電壓：20kV
束斑：根據面掃區域大小及圖像分辨率適當選擇（分辨率＞256*256）
采樣時間：根據束斑及分辨率計算（≈2小時）
以上為常規測試條件，如需高精度面掃圖像可根據需求進行調整。
硅酸鹽礦物各元素含量校正標樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標樣為純物質：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標樣。