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電子探針-定性（點）分析

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更新時間：2021-11-25 10:06:54瀏覽次數(shù)：567次

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所在地區(qū)：湖北武漢市

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產(chǎn)品簡介

測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)

詳細(xì)介紹

測試項目：電子探針
測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量；2、提前將測試點位用半圓圈起，并將各點位直線連接以便測試時快速定位，具體請咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
完成標(biāo)準(zhǔn)：儀器狀態(tài)良好，監(jiān)控標(biāo)樣測試值在允許誤差范圍內(nèi)。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號為日本電子（JEOL）JXA8230
硅酸鹽測試條件為：
電流：2*10^-8A、電壓：15kV
束斑：常規(guī)元素spot（≈1μm）、揮發(fā)性元素3μm，礦物顆粒不小于3um
采樣時間：peak 10s、back5s、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硫化物測試條件為：
電流：5*10^-8A、電壓：15kV
束斑：spot（≈1μm）
采樣時間：peak 10s、back5s 、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硅酸鹽礦物各元素含量校正標(biāo)樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標(biāo)樣為純物質(zhì)：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標(biāo)樣。
數(shù)據(jù)校正采用日本電子（JEOL）的ZAF校正方法進(jìn)行修正