黃玉榮
市場專員
掃一掃，微信聯系
13316818270
當前位置：深圳市世紀天源儀器有限公司>>日本J-RAS>>離子遷移試驗裝置（CAF）>> HVUα_3000V3000V離子遷移試驗裝置
| 產地 | 進口 | 加工定制 | 是 |
|---|
100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。
メイン畫面
テキストデータ畫面
グラフ畫面
ログ表示
対応OS：WindowsXp、7、8、10
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，儀表網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
儀表網