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半導體材料IV掃描儀器儀表支持四象限工作，源和負載，電壓及電流范圍廣，電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V，準確度為0.1%；5寸觸摸顯示屏圖形化操作，內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試；支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

源表特點：

多功能： 可作源和負載，又能測；

高效率： 滿足多種測試需求；

可編程控制： 高精度可調，靈活控制；

IV掃描： 快速、直觀顯示，一步操作。

應用領域：

分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等

有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等

納米材料特性測試，石墨烯、納米線等

測試功能：

S系列介紹：

特點：

1、 5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

2、內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

3、源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位

4、四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V

5、豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

6、支持USB存儲，一鍵導出測試報告

7、支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

參數：

源限度	電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ;
電流源	士1.05A(≤30V量程)，+105mA (≤300V量程) ;
過量程	105%量程,源和測量;
穩定負載電容	<22nF ;
寬帶噪聲(20MHz)	2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值);
線纜保護電壓	輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ;
Z大采樣速率	1000采樣點/秒;
觸發	支持IO觸發輸入及輸出,觸發極性可配置;
輸出接口	前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時刻只能用前或者后面板接口;
通信口	RS-232、GPIB、以太網;
電源	AC 100~ 240V 50/60Hz ;
工作環境	25+10°C ;
尺寸	106mm高x 255mm寬x 425mm長;
重量	5Kg ;
質保期	3 年;