當前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導體器件測試儀器儀表>>半導體器件測試儀>> S100/S200/S300微納器件電性能測試用數字源表
產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
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工作環境? | 25±10℃ | 測試范圍? | 0~300V/0~3A |
測試精度 | 0.03% |
微納器件電性能測試用數字源表特點:
同時精確提供和測量電壓和/或電流;
同步測量,減少測試時間
提供和測量非常廣的電流和電壓;
電壓可達300mV-300V,電流達100nA-1A
支持運行用戶腳本程序,無需電腦控制,提高生產測試速度;
序列測試,簡化操作,降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面,不管用戶經驗是否豐富,使用起來都非常簡便;
觸屏操作
與傳統電源比:
電源過零需要改變線連接方式;
增加需反復開關機械開關,降低了設備可靠性
電壓電流限制精度有限;
電壓1%,電流10mA
與電源結合萬用表組合比:
萬用表電源組合需要編程實現設備控制及同步;
復雜連線、編程開發
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低,瞬態特性也無法保證
微納器件電性能測試用數字源表認準普賽斯儀表,國產自主研發,性價比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達300V,支持USB存儲,一鍵導出報告,符合大環境下國內技術自給的需求,可及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比系統解決方案,及時指導客戶編程,加速測試系統開發,詳情請聯系普賽斯儀表銷售專員為您解答
產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
內置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV
源及測量的準確度為0.1%,分辨率5位半
四象限工作(源和肼),源及測量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V
豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲,一鍵導出測試報告
支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網
應用
分立器件特性測試:電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量與效率特性測試:LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器;
傳感器特性測試:電阻率、霍爾效應等;
有機材料特性測試:電子墨水、印刷電子技術等;
納米材料特性測試:石墨烯、納米線等;
激光器特性測試:窄脈沖LIV測試系統;
功率器件:靜態測試系統;
電流傳感器:動靜態參數測試系統;
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