電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴格要求的特點。因此，目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是較常用的方法。

四探針測試原理

四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。后，電阻率通過樣品的幾何參數，輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。

普賽斯儀表S型源表能四線法測電阻嗎？對線纜要求？
①可以的，使用其四線測量模式；
②四探針測試時一般是恒流測電壓，而所加的電流一般在m*，所以對線纜基本沒有要求

需要測試的參數：
表面電阻率

需要儀器列表：
S型國產源表

探針臺或夾具

可編程溫箱

軟件

高校相關專業
材料專業

化學專業

武漢普賽斯儀表自主研發的高精度源表（SMU），可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控，測量電壓分辨率 高達微伏級。支持四線開爾文模式，適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到準確的測試結果。

上位機軟件指導電阻率測試步驟，測試方法清晰明確，即使不熟練的工程師也能迅速掌握測試方法。 內置電阻率計算公式，測試結束后直接從電腦端讀取計算結果，方便靈活的做后續處理分析系統主要由源測量單元、探針臺和上位機軟件組成。四探針可以通過前面板香蕉頭或者后面板三同軸接口連接到源表上。