手持式X熒光光譜儀DF-2000
1、 儀器性能特點
DF-2000是能量色散型X熒光光譜儀，方便快捷的對多種形態樣品中的元素進行快速無損分析。
| DF-2000性能特點 |
| 測定元素 | Si-PIN探測器：鈦元素—鈾元素 | SDD探測器：鎂元素—鈾元素 |
| 樣品形態 | 固體、液體、粉末樣品均可直接檢測 |
| 操作特點 | 一鍵式設計，操作界面簡單 |
| 安全性能 | 多層保護，避免X射線對人體的輻射傷害 |
2、主要技術指標
DF-2000主要技術指標包括：探測器、一體化X射線發生器
（1）探測器
DF-2000選用了Si-PIN和SDD兩種探測器，用戶可根據自己的實際需要來選購。
| 探測器 Detector |
| 類型 | SDD硅漂移探測器 | Si-PIN探測器 |
| 典型分辨率 | 125ev | 150ev |
| 輸出計數率 | 100kcps | 30kcps |
| 峰背比 | >8000 | >6200 |
（2）一體化X射線發生器
| 一體化X射線發生器 |
| 輸入電壓 | 9—11VDC |
| 輸入電流 | 0.5A |
| 輸出電壓 | 50Kv，200uA |
| *大功率 | 4W |
| 穩定性 | 8小時0.2% |
3、光譜分析系統控制和數據處理系統
（1）12位模/數轉換器
（2）3.5寸高清顯示器
（3）Atom Z510 1.1GHz處理器，1G內存
（4）8G工業級（PQI） CF卡,可以存儲更多數據
（5）自定義的XPE操作系統，用戶使用更方便
（6）一鍵式設計，測量停止只需點擊一下按鈕
（7）結果、譜圖兩種模式自由切換。結果模式測量數據每秒更新，可據數據的穩定程度隨時終止測量
（8）高容量聚合物鋰離子電池，可以連續使用6小時
（9）預留USB接口
4、應用領域
適用于金屬合金分析、廢舊金屬回收、合金材料鑒別（PMI）、生產制造控制、ROHS篩選、地址勘探、采礦等領域。
5、 尺寸規格
長*寬*高：260mm*95mm*280mm
重量：約1.8kg
6、 工作環境
--溫度范圍：-10℃—40℃。
--相對濕度：≤80%
