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清潔度檢測(cè)空白試驗(yàn)

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更新時(shí)間：2023-01-15 10:54:31瀏覽次數(shù)：261次

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英菲洛精密科技（蘇州）有限公司

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清潔度檢測(cè)空白試驗(yàn)重量限值：低于假定分析重量的10%注釋：在非受控的環(huán)境條件下（非受控的濕度和溫度），使用一個(gè)四位天平，Z小可空白試驗(yàn)值為0.3mg。因此為了滿足10%標(biāo)準(zhǔn)，在部件試驗(yàn)期間應(yīng)當(dāng)至少收集到3mg。

詳細(xì)介紹

清潔度檢測(cè)空白試驗(yàn)

1、重量限值：低于假定分析重量的10%
注釋：在非受控的環(huán)境條件下（非受控的濕度和溫度），使用一個(gè)四位天平，蕞小可空白試驗(yàn)值為0.3mg。因此為了滿足10%標(biāo)準(zhǔn)，在部件試驗(yàn)期間應(yīng)當(dāng)至少收集到3mg。

2、顆粒數(shù)限值：按照相關(guān)尺寸，小于假定或者規(guī)定數(shù)量的10%，各個(gè)計(jì)算數(shù)字均下舍入，
示例：
對(duì)于一個(gè)粒度，規(guī)定數(shù)量為16,16*10%=1.6 舍入值=1
結(jié)論，空白可接受一個(gè)微粒
注釋：空白檢驗(yàn)文件中所規(guī)定的粒度應(yīng)當(dāng)盡可能接近部件所能接受的蕞大粒度，并且予以選定，從而能夠計(jì)算出有效的微粒數(shù)量。

3、蕞大顆粒：IS0 16232-10粒度范圍的微粒剛剛低于假定或者規(guī)定蕞大顆粒的二分之一
示例：蕞大可接受粒度X=350um，350um/2=175um
這是ISO 16232-10所規(guī)定的粒度等級(jí)G，緊接著較低粒度等級(jí)為F級(jí)，也就是說對(duì)于空白來說，沒有微粒大于100um。

4、如果空白水平超過了10%，那么可以提高分析的試驗(yàn)部件的數(shù)量，從而可以收集到更多的微粒，以便來滿足10%的極限。

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關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn)