Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡在qiangzhi事件中，qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發揮重要的作用。GSR 分析技術首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發現可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識別在該粒子中的元素。 常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進行搜索。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡自動qiangzhi殘留物分析是*在臺式掃描電鏡運行自動qiangzhi殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目：自動槍擊殘留物分析和分類軟件包，BSED 和 EDS 探頭內部集成，校準試樣。
Phenom GSR自動qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲，使其穩定運行，燈絲壽命不低于 1500 個小時，從可用性，適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間，和快速的全自動馬達樣品臺，使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具，可以用來進行自動qiang擊殘留物分析。
| | Phenom GSR |
| 光學放大 | 3 - 16 X |
| 電子光學放大 | 80 - 100,000 X |
| 分辨率 | 優于 20 nm |
| 數字放大 | Max. 12 X |
| 光學導航相機 | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續可調 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 |
| 降低核電效應模式 |
| 高真空模式 |
| 探測器 | 背散射電子探測器 |
| 二次電子探測器 (選配) |
| 樣品尺寸 | 大 100 mm X 100 mm |
| 可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺 |
| 樣品高度 | 高 65 mm，樣品高度全自動調節 |
